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芯片底部填充膠填充不飽滿(mǎn)或滲透困難原因分析及解決方案

發(fā)布時(shí)間:2025-04-02 10:42:44 瀏覽:9次 責(zé)任編輯:漢思新材料

芯片底部填充膠(Underfill)在封裝工藝中若出現(xiàn)填充不飽滿(mǎn)或滲透困難的問(wèn)題,可能導(dǎo)致芯片可靠性下降(如熱應(yīng)力失效、焊點(diǎn)開(kāi)裂等)。以下是系統(tǒng)性原因分析與解決方案:


一、原因分析

1. 材料特性問(wèn)題

膠水黏度過(guò)高:黏度過(guò)大會(huì)阻礙流動(dòng)性,導(dǎo)致滲透不足。  

固化速度不匹配:固化時(shí)間過(guò)短(膠水提前固化)或過(guò)長(zhǎng)(未充分填充時(shí)流動(dòng)停滯)。  

膠水儲(chǔ)存不當(dāng):膠水過(guò)期或受潮/受熱導(dǎo)致性能劣化。  

 

2. 工藝參數(shù)不當(dāng)  

點(diǎn)膠參數(shù)錯(cuò)誤:點(diǎn)膠量不足、點(diǎn)膠路徑不合理(未覆蓋關(guān)鍵區(qū)域)或點(diǎn)膠速度過(guò)快。  

溫度控制不佳:基板或芯片未預(yù)熱,膠水在低溫下黏度升高;固化溫度與時(shí)間偏離工藝窗口。  

真空/壓力不足:未使用真空輔助填充時(shí),毛細(xì)作用不足以驅(qū)動(dòng)膠水滲透。  

 

3. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)缺陷  

間隙過(guò)?。盒酒c基板間隙(Standoff Height)過(guò)小(如<50μm),流動(dòng)阻力增大。  

結(jié)構(gòu)阻擋:焊球陣列(BGA)密度過(guò)高、凸塊(Bump)布局不合理,或存在物理障礙物(如密封膠圈)。  

排氣不暢:膠水流動(dòng)路徑中無(wú)排氣通道,導(dǎo)致氣阻(Air Entrapment)。  

 

4. 環(huán)境因素  

溫濕度失控:車(chē)間濕度過(guò)高導(dǎo)致膠水吸潮,或溫度波動(dòng)影響?zhàn)ざ取? 

潔凈度不足:顆粒污染物堵塞流動(dòng)路徑。

 

 

 

二、解決方案

 

1. 材料優(yōu)化  

選擇低黏度或自流動(dòng)(Self-flowing)膠水(例如黏度<2000 cP),必要時(shí)添加稀釋劑(需驗(yàn)證兼容性)。  

調(diào)整固化曲線(xiàn):延長(zhǎng)膠水在流動(dòng)階段的預(yù)熱時(shí)間,避免過(guò)早固化;匹配溫度梯度與膠水特性。  

嚴(yán)格儲(chǔ)存管理:膠水需避光冷藏(如2~8℃),使用前回溫至室溫并充分?jǐn)嚢琛?/span>

 

2. 工藝改進(jìn)

點(diǎn)膠參數(shù)優(yōu)化:  

采用多針頭點(diǎn)膠或螺旋點(diǎn)膠(Spiral Dispensing)覆蓋更廣區(qū)域。  

點(diǎn)膠量需通過(guò)實(shí)驗(yàn)確定(例如體積覆蓋焊球高度的1.5倍)。  

預(yù)熱基板與芯片:預(yù)熱溫度通常為80~120℃(具體依膠水規(guī)格),降低膠水黏度。  

真空輔助填充:在真空腔中加壓或抽真空(5~50 kPa),增強(qiáng)毛細(xì)效應(yīng)。  

固化工藝調(diào)整:分階段固化(如預(yù)固化+主固化),確保流動(dòng)充分后再完全固化。

 

3. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)調(diào)整

增大間隙:通過(guò)調(diào)整焊球高度或基板設(shè)計(jì),使間隙>50μm(需平衡機(jī)械強(qiáng)度)。  

優(yōu)化布局:避免密集焊球區(qū)域形成“死區(qū)”,必要時(shí)采用階梯式焊球排布。  

增加排氣孔:在基板邊緣設(shè)計(jì)微型排氣通道,或通過(guò)臨時(shí)開(kāi)孔輔助排氣。

 

4. 環(huán)境與設(shè)備控制

環(huán)境溫濕度控制:保持車(chē)間溫度25±2℃、濕度40~60% RH。  

點(diǎn)膠設(shè)備校準(zhǔn):定期維護(hù)點(diǎn)膠閥,避免堵塞或出膠不均。  

潔凈度管理:使用高精度過(guò)濾器(如5μm)凈化膠水,避免顆粒污染。

 

 

三、驗(yàn)證與測(cè)試

1. 流動(dòng)測(cè)試:使用透明玻璃基板模擬實(shí)際封裝,觀(guān)察膠水流動(dòng)路徑與填充率。  

2. X-Ray檢測(cè):檢查填充膠在焊球間隙中的滲透均勻性。  

3. 可靠性測(cè)試:通過(guò)溫度循環(huán)(-40~125℃)和機(jī)械振動(dòng)測(cè)試驗(yàn)證填充效果。

 

 

四、典型案例

案例1:某BGA封裝填充不飽滿(mǎn),原因?yàn)楹盖蜷g隙僅30μm。解決方案:改用低黏度膠水(1500 cP)并增加真空輔助,填充率提升至95%。  

案例2:膠水提前固化導(dǎo)致滲透失敗。調(diào)整固化曲線(xiàn),將預(yù)固化溫度從100℃降至80℃,延長(zhǎng)流動(dòng)時(shí)間至3分鐘,問(wèn)題解決。

 

通過(guò)系統(tǒng)性?xún)?yōu)化材料、工藝與設(shè)計(jì),可顯著提升填充膠的滲透效果,確保封裝可靠性。



文章來(lái)源:漢思新材料



 


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